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功能材料电学综合测试系统

产品型号:HC 系列

产品价格:电议

阅读人数:59

发布时间:2021/3/5 12:28:36

产品描述: 本套系统可完成功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试,以及高、低温环境下的电学测试。与国际电学检测仪器在通讯协议、数据库处理、软件兼容性做了大量的接口。无论在软件与硬件方面,使本套仪器在未来更易于扩展。更加节省改造时间与硬件成本。

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产品详情

  

功能材料电学综合测试系统

 

 

 

 

铁电参数测试功能

Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率Static Hysterestic 静态电滞回线测试;PUND 脉冲测试;Fatigue 疲劳测试;Retention保持力;Imprint印迹;Leakage current漏电流测试;Thermo Measurement 变温测试功能。 

压电参数测试功能
可进行压电陶瓷的准静态d33等参数测试,也可通过高压放大器与位移传感器(如激光干涉仪)动态法测量压电系数测量。


热释电测试功能
主要用于薄膜及块体材料变温的热释电性能测试。采用电流法进行测量材料的热释电电流、热释电系数、剩余化强度对温度和时间的曲线。薄膜材料变温范围:-196℃到+600℃;块体材料变温范围:室温到200℃、室温到600℃、室温到800 

介电温谱测试功能
用于分析宽频、高低温环境条件下功能材料的阻抗Z、电抗X、导纳Y、电导G、电纳B、电感L、介电损耗D、品质因数Q等物理量,同时还可以分析被测样品随温度、频率、时间、偏压变化的曲线。也可进行压电陶瓷的居里温度测试。


热激发化电流测试仪
 TSDC
  
用于研究材功材料性能的些关键因素,诸如分子弛豫、相转变、玻璃化温度等等,通过TSDC技术也可以比较直观的研究材料的弛豫时间、活化能等相关的介电特性。



绝缘电阻测试功能
高精准度的电压输出与电流测量,保障测试的品质,适用于功能材料在高温环境材料的数据的检测。例如:陶瓷材料、硅橡胶测试、PCB、云母、四氟材料电阻测试、也可做为科研院所新材料的高温绝缘电阻的性能测试。 

高温四探针测试功能
符合功能材料导体、半导体材料与其它新材料在高温环境下测试多样化的需求。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。

塞贝克系数/电阻测量系统适用于半导体,陶瓷材料,金属材料等多种材料的多种热电性能分析;可根据用户需求配置薄膜测量选件,低温选件温度范围-100℃到200℃,高阻选件高至10MΩ

电卡效应测试功能
还可以用于测试材料在宽温度范围内的电卡性能。温度范围:-50℃到200℃、热流时间范围:1s-1000s,zui大电压可达10kV波形:用户自定、脉冲、三角波、正弦波、任意波形、预定义波形。 

功能材料电学综合测试系统

用户可选择不同的配置



设备优势

本套系统可完成功能材料铁电、压电、热释电、介电、绝缘电阻等电学测试,以及高、低温环境下的电学测试。与国际电学检测仪器在通讯协议、数据库处理、软件兼容性做了大量的接口。无论在软件与硬件方面,使本套仪器在未来更易于扩展。更加节省改造时间与硬件成本。

 


性能优势

  华测仪器依托多年高压控制、测试方面多年的技术成果,安全保护:增加TVS保护过压、过流、过温等技术,更加安全与可靠。软件设计:借鉴国际流品牌,在测试功能、数据处理、操作等更加人性化等方面做了大量的改进;测量精度:与国际线品牌仪器做了大量的测试对标,与国内航天计量院通力合作;进行检测计量。保证数据的有效与真实。

 


研发优势

研发团队拥有多域、多学科的博士、硕士业技术人员,他们致力于材料电学、电力电子、信号、测控、精密加工方面的研究,并且是掌握材料电学检测技术li的科研团队!自成立以来获多方科研机构、大学试验室支持,聘请多个知名院校的家教授,组建华测仪器家顾问团

 

定制化服务

电学试验室拥有泰克、是德科技国际品牌大批检测设备;生产制造方面,公司有4轴、5CNC加工中心、超精磨床等大批生产、加工设备,ISO9001国际质量体系认证,在工装、夹具定制化方面更加方便、高效。

 

更优xiu的测试功能

HCTD3000铁电测试系统具有宽频率响应范围及宽测试电压范围,性价比非常高,满足了用户追求高性价的需求。主机内置电压档位有±10V±30V±100V±200V±500V可选。在±10V的内置电压下,电滞回线测试频率达到2MHz;在±500V的内置电压下,电滞回线测试频率达到±2kHz。此系统还可外部扩展电压到4kV10kV,也可加载选件实现压电、热释电和磁电测试功能。此系统包含Vision基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV10kVPremier II在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线,脉冲,漏电流,IVCV测试,也可加载选件实现压电、热释电、磁电测试和晶体管特性测试功能。

 

标准配置

Dynamic Hysteresis 动态电滞回线测试频率;

PUND 脉冲测试:zui小脉冲宽度2μs,zui小上升时间1 μsFatigue 疲劳测试,zui大频率300kHz

Retention 保持力测试;

Static Hysterestic 静态电滞回线测试;

Imprint 印迹;

Leakage current 漏电流测试:100fA to 1A


 

更多测试功能

 

高温部分通过近红外炉实现zui高可实现RT~1500°c环境下测试低温部分通过冷热台实现可实现-180~450°c环境下测试高、低温介电温谱测试频率I zui大测试范围20HZ-30MHZ
 

扩展测试装置

 


更新时间:2021/10/27 8:53:17

标签:功能材料电学综合测试系统   

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