TSC （TSDC）热刺激电流测试仪（热激发电流分析仪）

热刺激理论是在介质物理的基础上发展起来的，研究这一理论的方法即热刺激法比较简单实用而且又能较准确地测量出某些物质（如电介质、绝缘材料、半导体、驻体等）的微观参数，热刺激法是一面对材料升温一面进行测量，即非等温测量。由于材料（例如介电材料）中的荷电粒子的微观参数（如活化能h、松弛时间τ等）不同，用热刺激法就很容易将材料中的各种不同h或τ的荷电粒子分离开来，从而求出各自的参数。因为热刺激电流与材料的这些参数（如h与τ）密切相关，故它是一种研究介电材料、绝缘材料、半导体材料等的有效手段。tsc是指当样品受到电场化后，去掉电场，热激时，样品从化态转变到平衡态的过程中，在外电路中得到的电流，称为热激退化电流。

  SDC/TSC-3000型热激励去化电流测量系统原理：

     介质材料在受热过程中建立化态或解除化态时所产生的短路电流。基本方法是将试样夹在两电之间，加热到一定温度使样品中的载流子激发，然后施加一个直流的化电压，经过一段时间使样品充分化，以便载流子向电漂移或偶子充分取向，随后立即降温到低温，使各类化“冻结”，然后以等速率升温，同时记录试样经检流计短路的去化电流随温度的变化关系，即得到TSDC谱“冻结”，然后以等速率升温，同时记录试样经检流计短路的去化电流随温度的变化关系，即得到TSDC谱。

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