发布时间:2020/8/17 10:46:50阅读人数:2662
材料的抗电强度主要用材料的耐电强度来表示,其数值等于相应的击穿场强E穿。它除取决于材料的组成与结构外,主要受外界环境对E穿的影响。
首先是温度的影响,温度对电击穿影响不大,因为在电击穿过程中,电子的运动速度、粒子的电离能力等均与温度无关,因此在电击穿的范围内温度的变化对E穿没有什么影响。
温度对热击穿影响较大,首先温度升高使材料的漏导电流增大,这使材料的损耗增大,发热量增加,促进了热击穿的产生。此外,环境的温度升高使元器件内部的热量不容易散发,进一步加大了热击穿的倾向。
温度升高使材料的化学反应加速,促使材料老化,从而加快了化学击穿的进程。
从前面对介质损耗的讨论可知,频率对介质的损耗有很大影响。而介质损耗是热击穿产生的主要原因,因此频率对热击穿有很大的影响。在一般情况下,如果其他条件不变,则E穿与频率ω的平方根成反比,即
式中,A是决定于试样形状和大小、散热条件及ε等因素的常数。
此外,器件的大小和形状、散热条件都对击穿有很大的影响。例如,为了提高热击穿场强,防止器件被击穿,可以采取强制制冷等散热措施,来增加器件的抗击穿能力。
1、TVS瞬间抑制防护技术:
电压击穿试验仪大都采用的光耦隔离方式,但光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于电弧放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到任何作用。华测独立开发的TVS瞬间抑制防护技术,将起到对控制系统的稳定防护。
2、多级循环电压采集技术:
材料击穿后,瞬间放电速度约为光速的1/5~1/3,通用的方法为压降法进行采集击穿电压。即变压器的次级电压瞬间下降一定比率来判别材料是否击穿。显然记录击穿电压值产生偏差。而采用多级循环采集技术对击穿后的电压采集将解决此难题。
3、双系统互锁技术及隔离屏蔽技术:
采用双系统互锁技术应用于电击穿仪器,华测生产的电压击穿仪器不仅具备过压、过流保护系统,它独有的双系统互锁机制,当任何元器件出现问题或单系统出现故障时,将瞬间切断高压。将起到对设备及试验人员的系统防护。
原创作者:北京华测试验仪器有限公司
阿仪网设计制作,未经允许翻录必究
主营产品:功能材料电学综合测试系统、绝缘诊断测试系统、高低温介电温谱测试仪、极化装置与电源、高压放大器、PVDV薄膜极化、高低温冷热台、铁电压电热释电测试仪、绝缘材料电学性能综合测试平台、电击穿强度试验仪、耐电弧试验仪、高压漏电起痕测试仪、冲击电压试验仪、储能材料电学测控系统、压电传感器测控系统。
扫码关注我们!